LEICA 顯微鏡系統
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Leica 團隊 與 Stefan Hell 合作, 開發出奈米級的超解析顯微影像系統, SR GSD, 基態耗損 ( Ground State Depletion ) 技術, 將光學解析提升到 20 nm, 突破了阿貝光學繞射理論. 僅需一般螢光染劑, 無需特別製備. 每人都可輕易上手使用 ...........
激態耗損技術 - 超解析顯微影像系統


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