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/ Mitaka 工業雷射探針量測儀
Mitaka 的雷射探針自動對焦掃描量測技術 ( Point Autofocus Probe, PAP ), 被列入國際量測規範 ISO 25178-605. 隸屬非接觸式的精密量測.
雷射探針自動對焦掃描量測技術
雷射探針 3D 表面粗糙測量儀