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LEICA DM6 M LIBS 材料化學元素分析顯微鏡
LEICA DM6 M LIBS 結合 2 個世界為一體, 顯微鏡下的樣本結構影像 + 化學成分的量測分析.
將眼睛所看到的顯微結構, 無須在做樣本上的製備, 只需一鍵操作, 同時做化學成分的分析, 在一秒之內, 一次取得結構影像與化學圖譜. 這就是 LEICA DM6 M LIBS 的性能.
顯微結構與成分分析, 比傳統的SEM/EDS 相比, 可以節省 90% 以上的時間. 一秒內, 此 LIBS 技術優勢在於使用者可以自己看到受測樣本區域的顯微結構, 可以在目視的基礎, 對材料的化學成分的檢測結果充滿信心.
通過雷射雷測作為誘導激發光源, 通過鏡頭穿透樣品上的靶點, 即可在一秒鐘內得到材料成分的化學元素特徵光譜. 分析軟體會將圖譜與已知的元素和化合物資料集進行比對, 從而確定顯微受測結構的成分.
將眼睛所看到的顯微結構, 無須在做樣本上的製備, 只需一鍵操作, 同時做化學成分的分析, 在一秒之內, 一次取得結構影像與化學圖譜. 這就是 LEICA DM6 M LIBS 的性能.
顯微結構與成分分析, 比傳統的SEM/EDS 相比, 可以節省 90% 以上的時間. 一秒內, 此 LIBS 技術優勢在於使用者可以自己看到受測樣本區域的顯微結構, 可以在目視的基礎, 對材料的化學成分的檢測結果充滿信心.
通過雷射雷測作為誘導激發光源, 通過鏡頭穿透樣品上的靶點, 即可在一秒鐘內得到材料成分的化學元素特徵光譜. 分析軟體會將圖譜與已知的元素和化合物資料集進行比對, 從而確定顯微受測結構的成分.
LIBS 技術原理
DM6 M LIBS 以雷測作為誘導激發光源, 雷射將通過鏡頭穿透樣品上的靶點, 一個等離子體將會產生,然後分解。產生材料成分的化學元素特徵光譜. 分析軟體會將圖譜與已知的元素和化合物資料集進行比對, 從而確定顯微受測結構的成分.
無須SEM的繁複樣品製備和轉移
DM6 M LIBS 無需類似電子顯微鏡SEM的繁複樣品製備和轉移, 所以, 當進行材料顯微結構的元素分析, 可以節省 90% 的時間, 可以選配 Cleanliness Expert 分析軟體進一步做金屬材料清潔度分析.
< 探索 Cleanliness Expert 軟體 >
眼睛所見即是所測
這是唯一的眼睛所見即是所測的顯微結構量測分析系統, 而且是跨領域的整合, 光學影像的觀察 與 化學成分分析 的融合. 創新的解決方案可協助用戶執行金相材料的顯微結構的化學元素分析,例如煤岩, 礦石、合金、陶瓷。
相較於SEM/EDS 分析,LIBS 可以節省時間和資金, 具備產業界的投資與使用效率.
產業的應用
深度剖面 : 可減材料內含物是否隨深度而改變. 品質檢測極為重要.
層次分析 : 可分析每一層才亮的材料成分分布情形.
表面清潔 : 可分析清潔度, 檢視材料的汙染狀況.
延伸閱讀 : (影片欣賞)
了解什麼是 LIBS ( Laser Induced Breakdown Spectroscopy )