產品總覽 / LEICA 電顯(EM)樣本製備設備 / LEICA EM Cyo CLEM 冷凍光電聯用系統
LEICA Cryo CLEM 冷凍光電聯用顯微技術與系統, 是用於低溫電子顯微鏡觀察樣本的 “前期樣本定位”, 可事先在顯微鏡下確認樣本的受檢區域與定位, 再低溫冷凍轉移樣本至電顯, 基於定位的同步, 可幫助我們在電鏡下快速找到我們的目標物.
THUNDER Imager EM Cryo CLEM 是光學與電顯間的相互應用的直接橋梁, 其系統關鍵是冷凍螢光光學顯微鏡系統 (內建冷凍載物台)與冷凍樣本的轉移艙., 及特別的影像控制軟體 .........
